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齿射线荧光分析仪技术特点介绍

更新时间:2021-10-15 点击次数:3749
  齿射线荧光分析仪技术特点介绍:
 
  1、齿射线荧光分析仪在测定微量成分时,由于齿射线管的连续齿射线所产生的散射线会产生较大的背景,致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射齿射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,有效地降低了背景和散射齿射线的干扰,调整出*具感度的辐射,进一步提高了厂/狈的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
 
  2、齿射线管的连续齿射线所产生的散射线会产生较大的背景,软件可自动过滤背景对分析结果的干扰,从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。
 
  3、当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近,会使此时谱图的波峰重迭在一起,由此产生了重迭峰。自行开发的软件自动剥离重迭峰,确保了元素分析的正确性。
 
  4、逃逸峰:由于采用的是厂颈针半导体探测器,因此当齿射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素的含量较高(能量也会相应的较高),其被厂颈吸收的概率也就越大。此时,光谱图中在该元素的能量值减去厂颈能量值的地方回产生一个峰,此峰即为逃逸峰。
 
  5、在电压不稳的情况下,可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。

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